近日，鵬力智造 “桌面式自動光學(xué)檢測設(shè)備”評審會在南京順利召開。會議由南京信息工程大學(xué)禹勝林教授主持，合肥、南京、南通、揚州等地11位光學(xué)檢測行業(yè)頂尖專家參加評審。

據(jù)了解，自動光學(xué)檢測是利用光學(xué)方式取得成品的表面狀態(tài)，以影像處理來檢出異物或圖案異常等瑕疵。作為近幾年才興起的一種新型測試技術(shù)，AOI發(fā)展迅速，在半導(dǎo)體芯片檢測領(lǐng)域發(fā)揮著不可忽視的作用，是半導(dǎo)體芯片質(zhì)量保證的堅實基礎(chǔ)。隨著半導(dǎo)體芯片產(chǎn)量的提升以及先進封裝技術(shù)的進步，市場對芯片質(zhì)量的要求以及芯片測試設(shè)備的性能要求也逐漸提升，產(chǎn)量、精度與穩(wěn)定性三者兼而有之的產(chǎn)品才能獲得市場的青睞。未來，半導(dǎo)體檢測市場產(chǎn)值將占總體半導(dǎo)體設(shè)備產(chǎn)業(yè)的15%-20%。

會議現(xiàn)場，與會專家聽取了項目組的成果匯報，經(jīng)現(xiàn)場考察、實際操作、質(zhì)詢討論，專家組一致認為該項目采用高精度運動控制、高精密光學(xué)成像、智能缺陷檢測等技術(shù)，實現(xiàn)了不同尺寸芯片的高精度成像，單芯片尺寸最大檢測范圍達6.4mm*6.4mm，成像精度達0.5um，檢測圖像處理速度優(yōu)于0.5s/FOV，滿足設(shè)計指標(biāo)要求。該項目能夠準確識別出破損、崩邊、異物、劃傷、裂紋等多種缺陷，實現(xiàn)不同型號的裸芯片檢測。項目關(guān)鍵技術(shù)自主可控，在裸芯片檢測領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用前景和推廣價值。

見微知著，一絲不茍。鵬力智造將堅持不斷創(chuàng)新，依托在機器視覺等領(lǐng)域的深厚積淀，在半導(dǎo)體芯片封裝的來料、過程檢測各領(lǐng)域進行體系化布局，不斷提高自身的體系化貢獻率，做自動化測試領(lǐng)域的佼佼者。